Étude internationale

Les enfants exposés au scanner cérébral auraient plus de risques de développer un cancer

Les résultats de l’étude européenne EPI-CT menée sur plus de 600 000 patients identifient une relation linéaire « significative » entre les doses reçues lors d’examens de scanner cérébral avant l’âge de 22 ans et le risque de développer un cancer du cerveau plus tard. Le surrisque observé reste toutefois « très faible », selon l’IRSN.

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Le 06/01/23 à 8:00, mise à jour le 11/09/23 à 13:23 Lecture 3 min.

Ces découvertes appuient néanmoins l’importance de l’application des règles de la radioprotection, commentent les auteurs de l’article (photo d'illustration). © Carla Ferrand

Passer des examens de scanner cérébral avant l’âge de 22 ans augmente le risque de développer un cancer du cerveau en proportion de la dose reçue, selon une étude à laquelle a participé l’Institut français de radioprotection et de sûreté nucléaire (IRSN).

Un projet européen

L’étude EPI-CT, pour Epidemiological study to quantify risks for paediatric computerized tomography and to optimize doses) est un projet international de recherche en épidémiologie, qui vise à évaluer le risque d’effets à long terme pour les enfants et les adolescents exposés aux rayonnements ionisants lors d’examens scanners, décrit le site internet de l’IRSN. Alors que l’utilisation du scanner se développe, stimulée par les bénéfices médicaux de cette modalité, il était nécessaire d’analyser les effets des rayonnements ionisants que reçoivent les patients, souligne l’institut : « Plusieurs études récentes semblent mettre en évidence une augmentation du risque de cancers du système nerveux central et de leucémies, éc

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Auteurs

Jérome Hoff

Rédacteur en chef adjoint BOM Presse Clichy

Voir la fiche de l’auteur

Bibliographie

  1. Hauptmann M., Byrnes G., Cardis E. et coll., « Brain cancer after radiation exposure from CT examinations of children and young adults: results from the EPI-CT cohort study », The Lancet Oncology, décembre 2022, vol. 24, n° 1, p. 45-53. DOI : 10.1016/S1470-2045(22)00655-6.

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